Cube 130

高倍率

Xplorer Cubeは、8Wで焦点距離12μm（JIMA分解能5μm）、FODが11mm以下と短いため、高倍率で数μmまでの微小形状を観察することができます。これにより、最も微細な部品でさえも徹底的に検査することができ、生産における品質管理と信頼性の向上につながります。

均一なX線強度分布

均一なX線強度分布と高い対称性を持つ焦点スポットにより、アーチファクトを低減しつつ、一貫性のある高品質なCT画像を実現します。これにより、検査精度と信頼性が向上し、微細な欠陥の検出が容易になります。製品の完全性を保証するための高性能イメージングを支える重要な要素です。

高出力性能

業界トップクラスとなる130 kV で65 W の高出力を実現する Xplorer 130 Cube は、プリント基板（PCBA）やバッテリー、その他電子部品の自動インライン2D・3D検査に最適です。両軸 115° の広範囲ビームカバレッジと組み合わせることで、生産ライン全体のスループット向上と検査効率の最大化を実現します。Xplorer 130 Cube の堅牢な性能は多様なアプリケーションに対応し、高精度かつコスト効率に優れた検査ソリューションを提供します。

コンパクトで信頼性の高い設計

設置面積を最小限に抑えた普及型X線モジュールで、省スペースと検査品質の向上を実現します。この合理的な設計により、生産ラインへの組み込みが容易になると同時に、信頼性の高い長期性能とメンテナンスが不要なため稼働時間と運用効率を最大化します。

ダイナミックフォーカシング

解像度と出力は個々の用途に合わせて最適化できるため、ユーザーは変化する市場で勝ち抜くために必要な柔軟性を得ることができます。

イーサネット接続対応

柔軟な操作性を実現。Xplorer 130 Cube は、付属の GUI による操作はもちろん、ホストコントローラーからの制御も、提供されるソフトウェアインターフェース仕様を使って行うことができます。また、最新のイーサネット接続に対応しており、インダストリー4.0 の要件に準拠。将来のシステム拡張にも対応可能で、高度な診断機能を通じてモジュールの性能監視も可能です。